2010年12月21日火曜日
受動部品のデバイスモデリングの測定環境
受動部品のデバイスモデリング(スパイスモデル作成)のプロセスは大きく分けると
3つあります。
(1)インピーダンス測定
(2)等価回路開発
(3)パラメータの最適化
です。
インピーダンス特性は、測定機器を活用し、Z-周波数の関係を取得していきます。
これは受動部品に関しては共通です。その次に、電気的特性を考慮した等価回路を
開発します。そして、取得したインピーダンス特性を開発した等価回路に組み込み
ます。その際にパラメータの最適化を行います。その後、評価シミュレーションを
行いますが、結果が悪い場合、つまり、%ERRORが大きい場合、等価回路が誤ってい
る可能性もあるため、見直しを行い、最適なモデリングを追求していきます。
何故、ここまで行うかと言うと、「シミュレーションの解析精度」＝「採用する
スパイスモデルの解析精度」の関係があるからです。
ビー・テクノロジーでは、デバイスモデリング教材をご提供しております。現在、
12種類です。今回の受動部品に関係するデバイスモデリング教材は以下の2点です。
受動部品モデル編(NEW)
トランスモデル編(NEW)
是非、ご活用下さい。
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