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ビー・テクノロジー
堀米　毅

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収束エラーの回避方法について

Convergence Guide for PSpice from Tsuyoshi Horigome

収束エラーの回避方法についての資料です。PSpiceをベースに
書いています。LTspiceユーザーの場合、3-4ページをご参照下さい。

また、収束エラーでお悩みの方、ご相談下さい。

ビー・テクノロジーでは、収束エラー解決サービスもご提供しています。

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IEC61000-4-5のシミュレーション

Simulation of Surge Immunity from Tsuyoshi Horigome

IEC61000-4-5(サージイミュニティ試験)のシミュレーションの事例
です。単相、3相の事例を掲載しています。

サージのシミュレーションの活用の参考にして下さい。

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Tanhの挙動について

Tanhの挙動について from Tsuyoshi Horigome

半導体のデバイスモデリングのIV特性の関すにTanhが採用される
ケースが多い。Tanhの挙動を確認した。

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SPICEを活用した研究開発の事例(研究開発のプロセス)

R&D of New Technology Using Simulation from Tsuyoshi Horigome

SPICEを活用した研究開発の事例です。
研究開発におけるプロセスは上記の資料の
とおりです。

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