IEC61000-4-5のシミュレーション

Simulation of Surge Immunity from Tsuyoshi Horigome

IEC61000-4-5(サージイミュニティ試験)のシミュレーションの事例
です。単相、3相の事例を掲載しています。

サージのシミュレーションの活用の参考にして下さい。

ビー・テクノロジー
堀米　毅

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Tanhの挙動について

Tanhの挙動について from Tsuyoshi Horigome

半導体のデバイスモデリングのIV特性の関すにTanhが採用される
ケースが多い。Tanhの挙動を確認した。

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堀米　毅

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