2020年3月24日火曜日

ダイオードのIFIR法における逆回復特性測定回路基板の開発について


Manual of trr Measurement Equipment from Tsuyoshi Horigome

ダイオードのIFIR法における逆回復特性測定回路基板の試作回路が
完成し、評価検証も終了し、製造中です。

この回路基板は、サンユー工業のURT-C112Nを1枚当たり2個使います。
この部品は、調達困難で、42個しか入手出来ませんでした。

よって、この回路基板の製造数は、21枚になります。つまり、限定21枚
になります。販売開始になりましたら、ご案内いたします。

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